CLJ-BII（J）全半導體激光塵埃粒子計數器

CLJ-BII（J）全半導體激光塵埃粒子計數器儀器簡介：　

　  該儀器的技術指標滿足國家計量總局頒布的JJG547-88檢定規(guī)程的要求，整機功能采用微電腦控制處理，可直接打印檢測結果。具有功能多、測量精度高、速度快、便于攜帶和操作簡單等特點。儀器一次采樣可同時測得多種粒徑的塵埃粒子數，并能選擇觀察其中某一粒徑粒子的數目及其變化情況，對于研究、檢測和評價各種潔凈環(huán)境都十分方便。

　　該系列產品已被廣泛應用于微電子、醫(yī)院、制藥、醫(yī)療器械、生化制品、食品衛(wèi)生、精細化工、精密機械和航空航天等生產和科研部門，是制藥企業(yè)及其監(jiān)督管理部門貫徹GMP規(guī)范的必選儀器。該系列儀器性能設計、質量穩(wěn)定可靠，深受用戶歡迎。經國內貿易部有關部門的市場調查和，先后獲《質量信得過產品》、《消費者信得過產品》、《質量監(jiān)督合格產品》等榮譽證書。

技術參數:

型號：CLJ-BⅡ(J)

采樣流量：2.83L/min

檢測范圍：100級～30萬級

自凈時間：≤10min

連續(xù)工作時間：8h

打印功能：內置打印機

工作環(huán)境：溫度10~35℃，相對濕度≤75%

電源：220V±10%，50Hz±2Hz

粒徑通道：0.3，0.5，1，3，5，10（um）六通道

采樣周期：1min~10min(10檔)

時鐘：有時鐘

公英制轉換：有公英制轉換

判斷凈化級別：按95%置信度判斷凈化級別

電源及壽命：全半導體激光>30000h

功耗：35W

外形尺寸：22.5X10X25(cm)

重量：4Kg